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          产品&技术

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          Array-离线自动光学检测设备(Offline)

          平板显示非晶硅阵列检测(a-Si Array)



           
            Array-离线自动光学检测设备(Offline)是用于TFT-LCD显示面板Array阵列制程中的缺陷检测,其高灵敏度的检测能力和客制化的应用功能帮助客户对阵列制程中的各种关键工序工艺进行准确快速的缺陷检测,并为产线产品的质量监控提供各种分析数据。

           

          应用范围:

          ?  G2.5代到G11代 TFT-LCD面板厂Array Offline AOI

          主要功能:

          ?  阵列区域( Array)的缺陷检测

          ?  外围电路区域(PAD)缺陷检测

          ?  宏观( Digital Macro)检测

          ?  基于分区阀值(RBT)的缺陷检测

          ?  缺陷手动和自动拍照系统

          ?  数据分析和趋势统计工具

          ?  缺陷分类与判级(ADC&ADJ)

           


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